Išplėstinė paieška
 
 
 
Pradžia>Fizika>Antrinių jonų masių spektroskopija (SIMS)
   
   
   
naudingas 0 / nenaudingas 0

Antrinių jonų masių spektroskopija (SIMS)

  
 
 
12345678910111213141516171819
Aprašymas

Įžanga. SIMS (antrinių jonų masių spektroskopija) pritaikymas. Jonų pluošto purslojimas. Purslojimo veikimas. Antrinio jono energijos pasiskirstymas. Antrinio jono našumai - pagrindinis veikimas. Antrinių jonų našumai – pirminio pluošto veikimas. Reliatyvaus jautrumo faktoriai. RSF lenteles. Jautrumo ir atskleidimo limitas. Profilio gylis. Gylio sprendimas. RSF Išmatavimo Standartai. Optinė Analizė. Masių įsimaišymai. Aukštasis Masinis Sprendimas. Mažesni Izotopai. Pradinis susidūrimas. Įtampos kompensavimas. Pavyzdžio apkrovimas. Elektronų bombardavimas. Gretimi laidininkai. Neigiami pagrindinių jonų spinduliai. Automatinis įtampos kompensavimas. Jonų vaizdavimas. Izotopų koeficientų matavimas.

Rašto darbo duomenys
Tinklalapyje paskelbta2008-12-09
DalykasFizikos referatas
KategorijaFizika
TipasReferatai
Apimtis17 puslapių 
Literatūros šaltiniai0
Dydis148.51 KB
Autoriusrobertas
Viso autoriaus darbų1 darbas
Metai2006 m
Klasė/kursas3
Mokytojas/DėstytojasLaukutis
Švietimo institucijaKauno Technologijos Universitetas
FakultetasFundamentaliųjų mokslų fakultetas
Failo pavadinimasMicrosoft Word SIMS vertimas [speros.lt].doc
 

Panašūs darbai

Komentarai

Komentuoti

 

 
[El. paštas nebus skelbiamas]

 
 
  • Referatai
  • 17 puslapių 
  • Kauno Technologijos Universitetas / 3 Klasė/kursas
  • Laukutis
  • 2006 m
Ar šis darbas buvo naudingas?
Taip
Ne
0
0
Pasidalink su draugais
Pranešk apie klaidą